薄膜電容的損耗是與制造工藝有關(guān)的，卷繞錯邊與噴金工藝的設(shè)定是如何造成薄膜電容損耗問題了，本文根據(jù)這兩個問題展開了探討，希望本文的內(nèi)容可以幫助到大家！
金屬化薄膜電容器芯子的端面要噴涂上金屬（一般為鋅、鋅錫合金），電容器的外引出線（一般為鍍錫銅包鋼線）就焊合到電容器芯子端面的金屬上（噴金層），這樣電容器的接觸損耗主要就是兩個方面。一是薄膜電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量；二是電容器的引出線與金屬層之間的接觸質(zhì)量。為了降低薄膜電容器的接觸損耗，應(yīng)從以下方面著手。
電容器芯子端面和金屬層之間的接觸質(zhì)量，即金屬層與電容器芯子的附著質(zhì)量。
1）卷繞錯邊，根據(jù)電容器的品種、電容量、額定電壓選取適當?shù)牟牧希饘倩∧る娙萜鬟x取適當?shù)慕饘倩∧ぃ娙萜髟诰砝@時要選取適當?shù)牟牧襄e邊，如果錯邊較小，電容器芯子端面在噴涂金屬時，金厲顆粒就會噴到芯子內(nèi)部，造成電容器短踣，如果錯邊過大，電容器芯子端面的金屬層附近不牢，影響電容器的高頻損耗。
2）噴金工藝設(shè)定
電容器的噴金工序是重要的工序，噴金工藝參數(shù)設(shè)定不好，直接影響產(chǎn)品質(zhì)量，它會造成電容器芯子的短黯、芼子端面的金屬層與芯子附著力不好，從而造成薄膜電容器高頻損耗增大。我們用正交試駿法進行了試驗，確定了電容器噴金工序的工藝參數(shù)。
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